Electron-Beam-Ion-Sources-and-Traps-and-Their-Applications-8th-International-Symposium-EBIST-2000-Upton-New-York-5-8-November-2000-AIP-Conference-Proceedings-Band-572 114,24 EUR*

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  • Kategorie: Diverse Bücher
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  • EAN: 9780735400115
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